Travaux Pratiques. Microscopie à force Atomique – AFM

Compte rendu suite à un TP des master de premiere année sur la microscopie à force atomique où dans un premier temps nous etudions un echantillon de silicium au microscope optique puis les differentes pointes utilisées dans l'AFM. Dans une seconde partie nous decrivons en detail le principe de l'AFM puis nous passons un echantillon de silicium.

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3,90 € TTC

Niveau: MasterPages: 16


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Introduction

I- Observation au microscope optique

II- Prise en main du microscope : imagerie d'un réseau

III- Courbe d'approche retrait en mode contact

IV- Caractérisation  de  la  surface  CYTOO  micro- fonctionnalisée
Conclusion

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